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Business

끊임없는 혁신과 지속적인 연구개발을 통한 시스템 IC 전문기업

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품질관리

신뢰성 목적

폐사(자사)에서 설계개발/생산/납품하는 제품에 대해서 고객이 신뢰할 수 있도록 관련 시험을 행하여 그 이력을 제공함

신뢰성 시험 항목

JEDEC에서 규정한 반도체 시험 항목을 준수함

신뢰성 시험 규격

JEDEC 규격을 이용함으로써 고객이 납득할 수 있는 수준의 시험 내용을 제공

NO. 시험 항목 [ TEST ITEM ] 참조 표준 [ REF. STANDARD ]
1 고온 방치 수명 High Temperature Storage Life : H T S L JESD22-A103
2 저온 방치 수명 Low Temperature Storage Life : L T S L JESD22-A119
3 고온 동작 수명 High Temperature Operating Life : H T O L JESD22-A108
4 저온 동작 수명 Low Temperature Operating Life : L T O L JESD22-A108
5 고온고습 동작 수명 Temperature Humidity Bias Life : T H B JESD22-A101
6 열충격 Thermal Shock : T S JESD22-A106
7 온도 사이클 Temperature Cycleing : T C JESD22-A104
8 초가속 스트레스 Highly-Accelerated Temperature and Humidity Stress Test : HAST JESD22-A110
9 정전기 ESD, Electro Static-Discharge
1) Human Body Model (HBM) JS-001-2017
2) Machine Model (MM) JS-002-2018
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